Panametrics 35DL超聲波測厚儀
Panametrics 35DL超聲波測厚儀在大多數(shù)應用中都可應用35型和35DL型
35型和35DL型超聲波測厚儀使用頻率范圍為2.25～30 MHz的探頭，因此這些通用型測厚儀可完成大多數(shù)從極薄到極厚材料的厚度測厚。一般來說，探頭頻率越高而直徑越小，對較薄或彎曲的工件測量的精度越高。

美國泛美超聲波測厚儀系列的特性

所有型號的標準配置均包含聲速和減縮率測量。
• 可測厚度范圍寬：0.08 mm～635.0 mm（0.0030 in.～25.0 in.），取決于儀器和材料。
• 采用接觸式、延遲線式、水浸式探頭。
• 自動調(diào)用功能可調(diào)用默認設置和自定義設置。
• 手持式，僅重0.24公斤（8.5盎司）。
• zui小/zui大模式
• 高-低報警
• 英制和公制顯示（英寸或毫米）
• 多種語言用戶界面
• 長效電池

Panametrics 35DL超聲波測厚儀應用

• 從薄到厚的大多數(shù)材料
• 薄如0.08毫米（0.003英寸）的塑料瓶、管件、管道、及板材
• 薄如0.10毫米（0.004英寸）的金屬容器、鋼卷材及機加工部件
• 汽缸孔、渦輪葉片
• 玻璃燈泡、瓶子
• 薄玻璃纖維、橡膠、陶瓷及復合材料
• 半徑較小的曲面部分或容器
• 分辨率可達0.001毫米或0.0001英寸

Panametrics 35DL超聲波測厚儀減縮率測量

所有儀器型號的標準配置都具有差分模式和減縮率模式。差分模式顯示實測厚度與預設厚度之間的差值變化。縮減率計算并顯示材料變薄以后厚度縮減的百分比。典型的應用是對為制造車身面板而彎曲成形的鋼板進行測量。

Panametrics 35DL超聲波測厚儀材料聲速測量
所有Panametrics 35型儀器均具有測量材料聲速的性能。在材料聲速與其它特性可能有關系的應用中，這個標準功能非常有用。典型應用包括監(jiān)測金屬鑄件的球化程度，以及監(jiān)測復合材料/玻璃纖維材料的密度變化。Olympus提供一個數(shù)字卡尺，用于自動傳輸測量厚度值。

Panametrics 35DL超聲波測厚儀自動調(diào)用功能可簡化測量操作
自動調(diào)用功能可使厚度測量簡化。在選擇了任何一種所存的探頭時，35型儀器都可調(diào)用相關內(nèi)置探頭的所有參數(shù)。
Panametrics 35DL超聲波測厚儀存儲的標準設置標準設置包括大多數(shù)常用的探頭。
Panametrics 35DL超聲波測厚儀存儲的自定義設置在標準設置不能滿足特殊的應用需求時，這些測厚儀可以創(chuàng)建、存儲和調(diào)用多達20個自定義設置（35型和35HP型可調(diào)用10個自定義設置）

Panametrics 35DL超聲波測厚儀配合M208探頭應用

渡越時間測量范圍：0.0 µs～109.5 µs
渡越時間分辨率：固定在000.01 µs。
測量更新速率：4、8、16或zui大頻率值（16～20 Hz，因應用和測量模式不同而不同）。
探頭頻率范圍：2.25 MHz～30 MHz（35型和35DL型）
0.5 MHz～5.0 MHz（35HP型和35DL-HP型）
zui小/zui大模式：顯示當前厚度、zui小厚度或zui大厚度（視設置而定）。
顯示保持/空白：顯示上一個讀數(shù)后，屏幕顯示空白或者持續(xù)顯示這個讀數(shù)。
報警模式：可編程高/低報警設定點，帶有視聽報警指示器。

差分模式：顯示實際測量值和參考值之間的厚度差。
縮減率模式：顯示厚度數(shù)值及實測厚度與參考厚度的百分比差值。
自動調(diào)用功能：自動為各種默認的和自定義的探頭設置調(diào)節(jié)內(nèi)部參數(shù)。

Panametrics 35DL超聲波測厚儀標準附件
手腕帶、3節(jié)AA電池、試塊、探頭線纜、耦合劑、便攜箱、指導手冊、兩年有限保修。